SMART: Selective MAC zero-optimzation for neural network reliability under radiation - INRIA - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

SMART: Selective MAC zero-optimzation for neural network reliability under radiation

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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https://hal.science/hal-04094354

Soumis le : mercredi 10 mai 2023-23:16:07

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:23:12

Archivage à long terme le : vendredi 11 août 2023-19:52:09

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Dates et versions

hal-04094354 , version 1 (10-05-2023)

Licence

Paternité

Identifiants

  • HAL Id : hal-04094354 , version 1

Citer

Anuj Justus Rajappa, Philippe Reiter, Tarso Kraemer Sarzi Sartori, Luiz Henrique Laurini, Hassen Fourati, et al.. SMART: Selective MAC zero-optimzation for neural network reliability under radiation. ESREF 2023 - 34th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2023, Toulouse, France. pp.1-4. ⟨hal-04094354⟩

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