Le marché du photovoltaïque connaît une croissance importante depuis une dizaine d’années. De nombreux progrès ont été effectués sur les installations PV afin d’en augmenter leur efficacité (architecture électrique, tracker 1 axe, etc.). Cependant, il existe peu de travaux concernant un système complet permettant la détection, l’identification et la localisation de défauts électriques dans les installations photovoltaïque. L’analyse de la signature électrique représente l’une des approches les plus efficace pour la détection de défauts et cela de manière non intrusive et pouvant se dérouler en temps réel. Après une courte introduction du sujet, cet article va présenter dans une première partie la modélisation et la signature électrique de panneaux photovoltaïques. Dans une seconde partie, des mesures IV de panneaux sont réalisées par un système développé aux laboratoires PROMES-CNRS et IES. Les mesures sont alors utilisées pour mettre en place des modèles sous PLECS. La comparaison des mesures et de la modélisation est discutée dans une troisième partie.